scenario
名词解释：
PVT：process（工艺制程），voltage（电压），temperature（温度）
RC corner：TLU+
MMMC：multi mode multi corner
OCV：on-chip viration
WCBC：worst case best case
scenario组成：
scenario=PVT+mode(function mode or test mode)（SDC constraints）+parasitic view(TLU+、SPEF)
根据不同的PVT条件，测试mode和parasitic view可以确定不同的scenario。在芯片设计中，考虑电池使用时长等因素，会利用DVFS table，在不同的电压和频率档位进行变换。测试多个scenario，可以测试芯片在不同的情形下是否可以正常使用。
Analysis type：
OCV：检测setup time时，lauch path使用快速scenario条件，capture path使用慢速scenario条件。检测hold time时，lauch path使用慢速scenario条件，capture path使用快速scenario条件。
WCBC测试方法：检测setup time时，使用最快的scenario条件，即best case。检测hold time时，使用最慢的scenario条件，即worst case。
AOCV：
POCV：
因此使用OCV模式更好。
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